性能指標

1.原子力顯微鏡工作模式

接觸模式，輕敲模式，非接觸模式，相位模式，抬高模式，側向力模式，力曲線測量模式，力調制模式（大氣及液體環(huán)境），液體成像模式，表面電位勢測量模式，靜電力模式，磁力模式，掃描隧道顯微鏡。

2.分辨率：XY：≤0.2nm, Z：≤0.01nm

3.噪音水平：≤0.05nm

4.可得到穩(wěn)定的云母及石墨原子像

5.SPM控制單元

5.1同時測量數(shù)據(jù)通道:4通道以上

5.2掃描控制：掃描范圍：水平/0.5~125μm,垂直/0.5~10μm

5.3 XYZ方向：16位控制;具備閉環(huán)掃描功能

5.4全自動驅近，最小步寬22nm

6.溫度控制:-30--200℃,溫度控制器的精度：0.1℃

7.濕度控制:20%--80%,可根據(jù)濕度傳感器調整

8.光學系統(tǒng)：在操作原子力顯微鏡、掃描隧道顯微鏡的同時，可獲得光學圖象，10倍Nikon物鏡(分辨率：1.6μm)，在監(jiān)視器上可放大450倍，垂直方向移動范圍超過400mm

主要應用

表面3D形貌測試、液體環(huán)境及溫度，濕度氣氛條件下的工作、活性生物樣品的現(xiàn)場測試及動態(tài)測試、聚合物材料等表面組成分布和溫度控制條件下的相變、單個分子的拉伸或DNA等的力學拉伸、蛋白質的折疊/展開、分子或抗體/抗原之間的相互作用、細胞的粘附力和受體的識別、膠質膠體及薄膜表面的相互作用、靜電力、表面電勢和表面力。

樣品要求

固體，液體環(huán)境，根據(jù)測試要求制備樣品

儀器說明

原子力顯微鏡（AFM）可以準確觀測樣品表面納米尺度的三維形貌、對樣品表面物理化學特性進行研究。