性能指標

加速電壓：200 kV；電子槍：肖特基型熱場發(fā)射電子槍；TEM點分辨率：0.23 nm；TEM信息分辨率：0.12 nm；STEM分辨率：0.16 nm；極靴間距：5.4 mm；STEM模式放大倍數(shù)：310x~150Mx；能譜分辨率：優(yōu)于136 eV；EDS固定角：0.9 srad；三維重構(gòu)樣品桿最大傾角：70°。

主要應用

可提供各種材料的形貌、基本結(jié)構(gòu)與成份信息：快速采集形貌圖像（高分辨）；選區(qū)電子衍射與晶體結(jié)構(gòu)分析；TEM及STEM模式可實現(xiàn)快速切換；配合能譜儀可以對樣品元素做點、線、面分布分析，以及各種元素進行定性和半定量微區(qū)分析，元素檢測范圍：B～U元素；利用三維樣品桿可以實現(xiàn)TEM、STEM和EDS三維重構(gòu)。

樣品要求

透射電鏡不做磁性樣品，不含F(xiàn)e、Co、Ni、Mn及Gd、Tb、Dy、Ho、Er等稀土元素；對于粉末樣品，要求樣品均勻分散在支持膜上并且干燥，能夠區(qū)分支持膜正反面；對于塊體樣品，要求樣品大小為直徑3 mm的圓，厚度為200 nm以下；高分辨樣品厚度在10 nm以下。

儀器說明

該儀器廣泛應用于化學、材料、食品、生物、物理、醫(yī)學等學科的分析研究。