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Zeta電位及納米粒度儀-東氿校區(qū)

發(fā)布日期:2024-03-04來源:分析測試中心 文:賀瓶 審核:張爽

Zeta電位及納米粒度儀

性能指標

1.激光器:40mW光泵半導體固體激光器。2.檢測器:高靈敏度雪崩型二極管(APD),量子效率QE大于70%。3.溫控:-5-110℃;±0.1℃。4.微流變測量功能:可檢測弱結(jié)構溶液的粘彈信息。5.與GPC聯(lián)接功能:可與GPC聯(lián)接作為動態(tài)光散射檢測器。6.Zeta電位測量范圍:-500mV~500mV。7.測量原理:硬件相位分析光散射PALS。8.電導率范圍:0-30 S/m。9.Zeta電位適用粒度范圍:0.001-100μm。10.測量范圍:0.3nm-10μm。11.粒度測量典型精度: ±1%。12.濃度范圍:0.1ppm-40%w/v。

主要應用

主要用于膠體、納米材料及蛋白質(zhì)等生物大分子,如乳液、懸浮液等樣品的粒度、Zeta電位及分子量測量,用于表征和評判各種體系的粒徑分布、分子大小以及體系穩(wěn)定性。

樣品要求

體積濃度比≤0.5%,粒度測量范圍0.3nm-10μm,有雜質(zhì)的需提前使用濾膜過濾。應為懸浮液。綠色樣品與激光色(紅光)互補,慎測。

儀器說明

采用PALS(相位分析光散射)技術,能夠精確測量低電泳遷移率體系,能夠較為精準的測量體系的Zeta電位和納米粒子的粒徑