發(fā)布日期:2024-04-22來源:分析測試中心 賀瓶
試運(yùn)行時(shí)間:2024年4月22日至4月30日
試運(yùn)行項(xiàng)目:常規(guī)XPS測試免費(fèi)送樣檢測(每課題組限10個(gè)樣品)
【儀器功能】
固體材料表面1-10 nm深度內(nèi)元素化學(xué)價(jià)態(tài)分析及分布測試
【儀器配置】
品牌型號:賽默飛ESCALAB Qxi大儀平臺儀器編號:23011401
X射線源:Al靶,能量1486.6 eV,最大功率300 W
束斑尺寸:200-900μm
最佳能量分辨率和靈敏度:對Ag 3d5/2峰,半高寬≤0.43 eV時(shí),計(jì)數(shù)率≥90 kcps
【樣品要求】
固體樣品,粉末、塊狀(建議≤30×20×3 mm3)、薄膜樣品均可;
樣品不含硫、鹵素及放射性元素,不含易揮發(fā)性物質(zhì),無強(qiáng)磁性;
樣品提前真空處理1天以上。
【測試內(nèi)容】
全譜掃描與對應(yīng)元素精細(xì)譜圖
提供簡單數(shù)據(jù)處理,各元素相對豐度及參考分峰圖
【聯(lián)系方式】
表面與性能專業(yè)分析平臺秦老師,徐老師0510-87667031
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